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化學機械平坦化 (CMP)
在制造微芯片的各個階段,晶圓的表面必須完全平坦(平坦化)。這樣做是為了去除多余的材料,或者為添加下一層電路功能創(chuàng)造一個完全平坦的基礎。為此,芯片制造商使用了一種稱為化學機械平坦化(CMP)的工藝。
CMP通過在晶圓背面施加精確的下壓力,并將前表面壓在特殊材料的旋轉墊上,該旋轉墊還含有化學品和研磨劑的混合物,從而去除晶圓正面表面的多余材料并使其平坦化。為確保適量的材料均勻地保留在整個 300 毫米晶圓上,該工藝必須在材料去除過程中施加不同數(shù)量的下壓力,同時在正確的點停止以避免拋光關鍵的基礎特征。
應用材料公司的控制系統(tǒng)連續(xù)測量晶圓上多個點的薄膜厚度,并每秒多次調整拋光下壓力,以在每個晶圓上產(chǎn)生一致的結果。整個 CMP 過程在短短 60 秒內(nèi)完成,包括拋光后清潔,在此期間對晶圓進行清洗、沖洗和干燥,然后離開 CMP 系統(tǒng)。
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Reflexion® LK Prime® CMP
Reflexion LK Prime CMP 系統(tǒng)具有使用四個拋光墊、六個拋光頭、八個清潔室和兩個具有先進工藝控制的干燥室的順序加工站,可為當今最先進的 CMP 應用提供精密加工和高生產(chǎn)率。Reflexion LK Prime CMP 針對兩步 CMP 應用進行了優(yōu)化,同時保持了 Reflexion LK CMP 的性能。其更高的拋光和清潔能力(Reflexion LK CMP 為 14 個模塊,而 Reflexion LK CMP 為 7 個模塊)和優(yōu)化的晶圓處理使許多應用的先前晶圓吞吐量提高了一倍,從而將生產(chǎn)率提高了 100%。
能夠獨立使用每個拋光和清潔站,可以靈活地運行順序、并行或批處理工藝,并在每個壓板上實現(xiàn)更大程度的定制。例如,3D NAND較厚的薄膜層和較寬的形貌需要長時間、穩(wěn)定的拋光。在多個壓板上以一系列較短的拋光方式執(zhí)行這些操作,可實現(xiàn)穩(wěn)定、可預測的平坦化。這反過來又有助于優(yōu)化晶圓上的性能并減少缺陷。與 Reflexion LK CMP 系統(tǒng)一樣,LK Prime 系統(tǒng)也采用了最新的拋光、清潔和過程控制技術,以確保在滿足未來設備節(jié)點要求方面實現(xiàn)最高水平的性能。
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